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04/03/2013 - Le CSIC perfectionne la vision du plus petit
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Pour observer ce que l'œil ne voit pas et où le microscope conventionnel n’arrive pas non plus, la Microscopie de la force atomique, chargée de percevoir les objets du monde nanoscopique. Cet outil, capable de détecter les forces de l’ordre piconewtons (la triple d’un newton) vient d’être perfectionnée grâce à une nouvelle technique développée par des chercheurs de Conseil supérieur de la recherche scientifique (CSIC).

 

L’amélioration, brevetée par le CSIC, a été licenciée par une spin off de l’institution, l’entreprise Next-Tip. Il consiste en un réservoir de nanoparticules de composition chimique et de taille contrôlée sur les sondes existantes pour la microscopie de force atomique. Le chercheur de l’Institut des sciences des matériaux de Madrid du CSIC Yves Huttel, responsable du développement, explique: "Les études ont montré que les nanoparticules déposées agissent comme des sondes efficaces et que quand elles sont plus petites, la résolution en microscopie est meilleure."

 

Les sondes de microscopie de force atomique sont l’un des éléments fondamentaux pour le fonctionnement de ce type de microscopes. Ils consistent en de très fines pointes qui parcourent la surface à observer. L’interaction entre la pointe et le milieu d’étude est celle qui fournit les informations sur la surface en question. La technique du CSIC ajoute donc les nanoparticules de taille et de composition déterminée à la surface de cette pointe.

 

Huttel indique que "le matériau qui compose les nanoparticules peut être adapté aux besoins de l’observation à effectuer." En outre, le chercheur du CSIC affirme que "les sondes fabriquées se sont révélées plus résistantes à l’usure, ce qui leur confère un attrait particulier pour des mesures dans des environnements extrêmes tels que ceux à basse température, à ultra-vide et à test de qualité dans des chaînes de production où la fiabilité est un facteur important."

 

La technologie mise au point par Huttel et son équipe représente, selon lui, "une alternative à la fabrication de sondes microscopie pour des mesures à haute résolution et à faible coût."

 

 

Image: (Source CSIC). Comparative d’images AFM prises sur la même région d’opales inversées. À gauche, l’image acquise avec une pointe commerciale. À droite, image équivalente prise avec une pointe modifiée avec la technologie brevetée par le CSIC. On peut observer que l’épaisseur des murs est significativement plus faible dans l’image de droite, grâce à l’augmentation de la résolution latérale obtenue avec cette technologie. Taille de l’image 450x450nm2. Crédit: L. Martinez, M. Tello

 

 

 

Références

    L. Martínez, M. Tello, M. Díaz, E. Román, R. Garcia, and Y. Huttel. Aspect-ratio and lateral-resolution enhancement in force microscopy by attaching nanoclusters generated by an ion cluster source at the end of a silicon tip. Review of Scientific Instruments. DOI: 10.1063/1.3556788

    C. V. Manzano, O. Caballero-Calero, S. Hormeño, M. Penedo, M. Luna, and M. S. Martín-González. ZnO Morphology Control by Pulsed Electrodeposition. Journal of Physical Chemistry. DOI: 10.1021/jp3107099

 

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Département de la communication CSIC


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