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11/04/2013 - Nouveau mode de microscopie magnétique pour l'analyse des disques durs
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Une équipe de chercheurs Conseil supérieur de la recherche scientifique (CSIC) a développé un nouveau mode de Microscopie magnétique pour analyser les disques durs d’ordinateur.

 

Les résultats du travail, publiés dans le dernier numéro de la revue Nanotechnology, montrent que la méthode amélioration de 15% la résolution et est capable de faire des bits visibles qui étaient auparavant cachés.

 

Au cours de la dernière décennie, la microscopie des forces magnétiques a été la technique la plus utilisée pour analyser les dispositifs de stockage magnétique de l’information, qui sont de plus en plus petits. La résolution de cette technique à température ambiante est de 40 nanomètres, semblable à la taille d’un bit sur un disque dur actuel, une circonstance qui a récemment motivé la recherche de nouveaux modes de mesure.

 

"Le fait que nous ayons actuellement réussi à stocker 300 Go sur un disque dur de seulement quelques centimètres est dû au fait que les bits magnétiques peuvent devenir de plus en plus petits. Par conséquent, pour les analyser, il faut des méthodes de microscopie à haute résolution," indique José Miguel García-Martín, chercheur du CSIC à l’Institut de microélectronique de Madrid.

 

Le fonctionnement des disques durs est basé sur l’orientation des "moments magnétiques" d’un support fabriqué avec un matériau imamable, comme par exemple les nanoverres ferromagnétiques. Sur ce support, les quelques ou zéros que constituent les bits d’information numérisée sont des régions avec l’imagerie orientée dans la même direction, mais dans un sens ou dans l’autre.

 

Images de microscopie de forces magnétiques de la même zone d’un disque dur où sont observés cinq pistes qui ont été obtenues en mode conventionnel (image supérieure) et en nouveau mode de torsion (image inférieure)./ CSIC

 

L’approche suivie par les chercheurs consiste à modifier le mode de fonctionnement de la micropalanque avec une pointe magnétique à son extrémité qui est utilisée comme sonde dans la microscopie des forces magnétiques. "Dans la méthode traditionnelle, la pointe vibre verticalement, tandis que dans le nouveau mode de mesure elle le fait latéralement," souligne Garcia-Martín.

 

En outre, les scientifiques ont préparé des pointes optimisées grâce à la déposition contrôlée du matériel magnétique. " Outre l’amélioration de la résolution d’environ 15% et la création de bits visibles qui étaient masqués auparavant, la nouvelle technique permet d’obtenir une image magnétique sans interférence topographique de la surface à étudier ," souligne le chercheur du CSIC. 

 

 

Référence bibliographique:

 

A. Kaidatzis et J. M. Garcia-Martin. Torsional resonance mode magnétic force microscopy: enabling higher latéral resolution magnétic imaging without topography-related effects.Nanotechnology. 24, 165704.


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